SZT-4數(shù)字式四探針測試儀是一款二量程的電阻測量儀器，通過配備手持式測試頭或座式測試架，可靈活應對不同形狀和尺寸的半導體材料測量需求。其測量范圍廣泛，電阻率可在0.01~200歐姆/厘米之間，能夠滿足大部分半導體材料的測試要求。同時，客戶可以根據(jù)不同的測試需求選擇不同的量程，最小可測量0.0001Ω，最大可測量100000Ω，確保測試的準確和可靠。

在測試過程中，SZT-4數(shù)字式四探針測試儀采用了恒流源技術，通過對恒流源的調(diào)整，可以對某些測量結(jié)果進行修整。例如，對于普通硅材料的測試結(jié)果，儀器可以自動乘以0.628的探險頭修正系數(shù)，從而得到更準確的測量結(jié)果。此外，儀器還可以對硅材料薄層擴散和導電薄膜的“方塊電阻”進行修正，修正系數(shù)為4.53等，進一步提高了測試的精度和可靠性。

SZT-4數(shù)字式四探針測試儀不僅具有強大的測量功能，其操作也十分簡便。儀器體形小巧，手持式測試頭設計使得測試過程更加靈活便捷。同時，儀器的量程適中，十分適合對重煉回料的分選工作，為生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制提供有力支持。

為了確保儀器的穩(wěn)定運行和測量結(jié)果的準確性，我們對SZT-4數(shù)字式四探針測試儀的工作環(huán)境條件進行了嚴格規(guī)定。儀器應在溫度18℃―25℃、相對濕度60%－80%的環(huán)境下使用，并避免強電場干擾和與高頻設備共用電源。這些措施有助于減少外部因素對測試結(jié)果的影響。

SZT-4數(shù)字式四探針測試儀還具備豐富的技術參數(shù)和配置選項。儀器配備了數(shù)字電壓表，量程為200mV單一量程，誤差控制在讀數(shù)±0.2%±3字以內(nèi)。同時，儀器還采用了高精度恒流源，輸出電流在0~10mA范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，量程可選1mA或10mA，誤差同樣控制在±0.2%±3字以內(nèi)。